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      產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST

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      合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀

      簡要描述:

      合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀
      M-5臺式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器

      更新時間:2025-02-17

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      合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀

      產(chǎn)品概述:

      M-5臺式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。

      合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀產(chǎn)品特征:

      • 測試儀由M-5型主機(jī)和四探針探頭以及快速恒壓四探針測試臺三部分組成

      • 臺式設(shè)計,帶完善厚度、形狀修正功能,測試精準(zhǔn)

      • 寬量程:超寬五個檔位,相當(dāng)于中檔臺式機(jī)的量程

      • 操作簡便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,LED數(shù)字表頭顯示

      • 多款探頭可選,適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測試

      工作電源:

      • 208-240V,50/60Hz

      • 功率:20W

      探頭:

      • 根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配:

      • 碳化鎢探針探頭(固體材料):φ0.5mm,探針間距1.0mm,測試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料

      • 球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜):φ0.7mm,探針間距2mm,可測金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底

      • 上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層

      • 探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差

      選配:快速恒壓四探針測試臺,對測試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)保證恒壓測試,提高測試的精確度

      測量范圍、分辨率:

      • 電阻:10-5~2*105Ω 分辨率:10-6~102 Ω

      • 電阻率:10-5~2*105Ω-cm 分辨率:10-6~102 Ω-cm

      • 方塊電阻:5*10-5~9*105Ω/m2  分辨率5*10-6~5*102Ω/m2

      基本誤差:±1%FSB±2LSB

      外形尺寸:220mm L × 245mm W × 100mm H

      凈重:2.5kg


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